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Platinas Dinámicas



Platinas Dinámicas

Prober

Mediciones eléctricas en estructuras IC, contraste de potencial, detección de defectos. Opciones: Operación de software y experimentos de alta o baja temperatura. Los traductores piezoeléctricos incorporados aumentan la precisión de posicionamiento a 10 nm, incluido el contacto extremadamente suave con control piezoeléctrico. Colocación óptima en la cámara de muestra del FIB “FEI 986 FC”. Precisión de posicionamiento de 1 μm bajo control visual.

Suspensión de haz electrostático

Mediciones eléctricas en estructuras IC, contraste de potencial, detección de defectos. Opciones: Operación de software y experimentos de alta o baja temperatura. Los traductores piezoeléctricos incorporados aumentan la precisión de posicionamiento a 10 nm, incluido el contacto extremadamente suave con control piezoeléctrico. Colocación óptima en la cámara de muestra del FIB “FEI 986 FC”. Precisión de posicionamiento de 1 μm bajo control visual.

Herramienta de extracción

Úselo para posicionar y colocar una aguja en la superficie de una muestra mientras se observa con un microscopio electrónico de barrido. Montado con un adaptador en el techo de la cámara de vacío. Tres direcciones ortogonales de movimiento de la aguja (xyz) y rotación sobre su propio eje. Capacidad de alto vacío, accionamiento mediante guía de vacío

Tracción y compresión in situ desde micro newtons hasta 10 kN

Compatible con EBSD Dispositivo de deformación para el microscopio electrónico de barrido que encaja en la platina de la muestra como una muestra grande. Para probetas de 30 a 60 mm de largo, hasta 10 mm de ancho y hasta 4 mm de alto. Amplio rango de recorrido de 40 mm Permite diagramas fuerza-desplazamiento. Unidad de microprocesador controlada por computadora con un extenso paquete de software. Un sistema para todo tipo de materiales y rangos de carga.

Módulo de tracción de fibra

Permite ensayos de tracción con fuerzas extremadamente bajas y la resolución de fuerza más fina (hasta 1×10-5 N). Las velocidades de tracción permiten pruebas de deformación muy específicas de 0,1 a 20 µm/s debido a su alta rigidez. La observación in situ con aumentos de más de 10 000 x es fácilmente posible.

Módulo de micro tracción

El accesorio de platina de muestra para el SEM también se puede utilizar bajo el microscopio óptico. Diseñado para carga mecánica, p. carga estática o alterna en sólidos pequeños y muy pequeños mediante un mecanismo de agarre controlado por piezoeléctrico. Superficies de las micropinzas inusualmente resistentes para sujetar objetos minerales o de metales duros sin dejar huellas.

Módulos de plegado 200N

Dispositivo de deformación, apto para trabajos al vacío en el microscopio electrónico de barrido. Rango de velocidad continuamente ajustable de 0,2 a 20 μm/seg. Permite ensayos de flexión de 3 o 4 puntos. Opcional ampliable a 500N.

Módulos de flexión 5kN

Dispositivo de deformación, personalizado para su uso bajo el microscopio de fuerza atómica. Adecuado para trabajar al vacío en el microscopio electrónico de barrido. Visualización de especímenes en vista seccional o vista superior. rango de velocidad ajustable de 2 a 150 μm/seg. Permite la flexión de 3 o 4 puntos.

Módulos de flexión 5kN

¿Por qué conformarse solo con energía de respaldo cuando Powervar Security II UPM le permite proteger su equipo de todas las incidencias de energía? Gracias a su transformador de aislamiento de baja impedancia, este UPM proporciona energía limpia y totalmente acondicionada, libre de ruido, picos y perturbaciones de modo común. Si se va la energía, la batería de respaldo es solo uno de los muchos beneficios que recibirá. Los tamaños de los productos varían de 420 VA a 3000 VA Transformador de aislamiento de baja impedancia y operación interactiva de línea

Módulos de flexión 5kN

Las sierras de alambre se utilizan para aplicaciones exigentes en las que se cortan alta precisión, daños bajos, obleas delgadas o secciones transversales más gruesas. Son comunes para la preparación de muestras de TEM, el corte de un solo cristal, la sección, la oblea y aplicaciones similares. Estas cuchillas son cuchillas de alambre de bucle pequeño, con una circunferencia de ~33" +/- 0,125" y están disponibles en espesores de alambre de 0,015" y 0,010". El alambre de diamante está incrustado con un abrasivo de diamante de ~45 micras, mientras que las cuchillas de acero inoxidable están diseñadas para su uso con lodos abrasivos.


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