La cartera de productos de Bruker Nano Analytics incluye una gama única de herramientas analíticas para la caracterización de materiales en microscopios electrónicos: Espectrometría de dispersión de energía en microscopios electrónicos de barrido (EDS para SEM) Espectrometría de dispersión de energía en microscopios electrónicos de transmisión (EDS para TEM) Difracción de electrones retro dispersados (EBSD) Espectrometría dispersiva de longitud de onda para SEM (WDS) análisis de microfluorescencia de rayos X en SEM (micro-XRF en SEM) Además de esta gama incomparable de herramientas analíticas para microscopios electrónicos, Bruker también ofrece una variedad de microanalizadores de fluorescencia de rayos X de sobremesa (micro-XRF) para el análisis de composición resuelto espacialmente y los instrumentos de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) para el análisis de elementos traza para una multitud de aplicaciones en la industria y la investigación. Por último, pero no menos importante, los espectrómetros de fluorescencia de rayos X de mano / móviles / portátiles de BNA (XRF de mano) tienen la capacidad de cuantificar o calificar de manera no destructiva casi cualquier elemento, desde magnesio hasta uranio (dependiendo de configuraciones de instrumentos específicos), brindando un análisis elemental rápido e in situ en una amplia gama de campos de aplicación.